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NanoScan von MKS von Ophir Spiricon
Ophir Spiricon ·
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Die schlitzbasierte Strahlprofilmessung mit dem NanoScan ermöglicht höchste Präzision bei der Ermittlung von Strahlposition und -größe. Bei den Messköpfen decken Silizium, Germanium und pyroelektrische Varianten einen weiten Bereich an Wellenlängen und Laserleistungen ab.